硅表面有机单分子膜的新表征方法--界面微分电容测量法

• 作者: Catherine Henry de Villeneuve Philippe Allongue 力虎林 孙乔玉
• 来源期刊: 高等学校化学学报
• 学科: 化学
• 关键词: 硅表面单分子膜 微分电容 表征方法
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 页码范围: 86-90
• 页数: 5页
• 分类号: O646
• 字数: 3613字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0251-0790.2003.01.012

摘要

提出一种表征硅表面有机单分子膜的新方法界面微分电容测量法.通过对新制备的H-Si(111)表面和一系列烯烃分子修饰的硅表面/电解液界面的微分电容的研究,建立了硅表面有机膜结构和性质与界面电容之间的联系.实践证明这是一个简便、快速和有效的实验技术,为硅表面化学修饰与功能化研究提供了一个非常有力的工具.