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基于Multisim的晶体管输出特性曲线测试
基于Multisim的晶体管输出特性曲线测试
作者:
蒋卓勤
邓玉元
黄天禄
原文服务方:
现代电子技术
输出特性曲线
Multisim
直流扫描分析
后处理
摘要:
Multisim是一个专门用于电子线路仿真与设计的EDA工具软件.简要介绍了利用Multisim的仿真分析法直流扫描分析法和后处理器进行晶体管输出特性曲线测试的方法.
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内容分析
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版权信息
引文网络
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内容分析
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关键词热度
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文献信息
篇名
基于Multisim的晶体管输出特性曲线测试
来源期刊
现代电子技术
学科
关键词
输出特性曲线
Multisim
直流扫描分析
后处理
年,卷(期)
2003,(7)
所属期刊栏目
实战基地
研究方向
页码范围
48-49
页数
2页
分类号
TP311.56
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1004-373X.2003.07.017
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
黄天禄
8
39
3.0
6.0
2
蒋卓勤
18
36
4.0
5.0
3
邓玉元
8
35
3.0
5.0
传播情况
被引次数趋势
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版权信息
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节点文献
输出特性曲线
Multisim
直流扫描分析
后处理
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代电子技术
主办单位:
陕西电子杂志社
出版周期:
半月刊
ISSN:
1004-373X
CN:
61-1224/TN
开本:
大16开
出版地:
邮发代号:
创刊时间:
1977-01-01
语种:
chi
出版文献量(篇)
23937
总下载数(次)
0
总被引数(次)
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