深亚微米VLSI设计中的Crosstalk问题分析及消除

• 作者: 胡伟武 蒋见花 陈守顺 黄令仪
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: VLSI crosstalk 耦合电容
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 电路设计与测试
• 页码范围: 48-50,41
• 页数: 4页
• 分类号: TN402
• 字数: 1687字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2004.03.010

摘要

随着特征尺寸降低到0.18μm以下,crosstalk日渐成为影响芯片设计成功与否的关键问题.本文分析了的深亚微米VLSI设计中由耦合电容造成的信号间的crosstalk问题,给出了一种峰值噪声电压的估计模型,并结合"龙芯一号"的设计,讨论了利用EDA工具解决crosstalk问题的流程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈守顺	中科院微电子中心	1	0	0.0	0.0
2	黄令仪	中科院微电子中心	3	1	1.0	1.0
3	蒋见花	中科院微电子中心	1	0	0.0	0.0
4	胡伟武	中科院计算所	7	11	2.0	3.0