H2O对OLEDs寿命影响的探讨

• 作者: 沈吉明
• 来源期刊: 光电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电离 Alq3+陷阱 寿命
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 169-170,173
• 页数: 3页
• 分类号: TN312+.8
• 字数: 1703字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-488X.2004.03.005

摘要

根据Alq3+的不稳定性模型,通过水分子的电离产生OH-,然后在Alq3层中引入Alq3+陷阱的方法,分析了器件中水气的存在对器件寿命的影响,表明当OLEDs内水浓度达到一定值时,才会对OLEDs寿命产生显著影响,而且寿命与H2O的浓度成反比,与电场强度的指数成反比.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈吉明	中国电子科技集团公司第五十五研究所	1	4	1.0	1.0