高压气瓶工艺残余应力测试和分析

• 作者: 张亦良 徐学东 葛森
• 来源期刊: 实验力学
• 学科: 工学
• 关键词: 高压气瓶 残余应力 X射线法 磁记忆法
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 页码范围: 194-199
• 页数: 6页
• 分类号: TG404|TB302
• 字数: 4074字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4888.2004.02.011

摘要

用X射线及磁记忆两种方法对压缩天然气的高压气瓶应力状态进行了系统分析,对一个气瓶整体制造工艺中的残余应力变化用X射线法进行了跟踪检测.考察了气瓶锻造后、淬火后及回火后外表面的残余应力状况,对相同测点进行了三次应力测试.为准确找到测点位置并寻求两种方法之间关系,在每次应力测试之前,均用金属磁记忆方法进行了先期检测.结果表明:锻造后应力水平不高,但磁记忆曲线有小幅波动,显示应力不均匀;淬火后表面具有较大压应力,最大达到0.86σS,且磁场亦有较大变化,个别点有明显应力集中;回火处理有效地消除了淬火残余应力,最大值小于0.17σS,应力均匀化,磁记忆曲线几乎无波动,效果良好.而从定量角度,残余应力和磁记忆两者之间没有明确的对应关系.对于磁记忆所显示的磁场强度变化处,用X射线法进行残余应力测试,结果并没有显示出较高的应力水平.说明两种方法不可互相替代,但以其各自的特点和优势可做互相补充.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张亦良		62	457	12.0	17.0
2	徐学东		34	179	7.0	11.0
3	葛森		1	24	1.0	1.0