红外焦平面器件盲元检测及补偿算法

• 作者: 刘上乾 周慧鑫 殷世民 赖睿
• 来源期刊: 光子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 红外焦平面阵列 盲元 红外成像 自动检测 插值补偿
• 年，卷（期）: 2004,（5）
• 所属期刊栏目: 图像处理
• 页码范围: 598-600
• 页数: 3页
• 分类号: TN214
• 字数: 2102字
• 语种: 中文

摘要

在分析盲元响应特性的基础上,利用红外焦平面阵列对双参考辐射源的响应数据和相邻像元成像数据的相关性,提出了一种基于双参考辐射源的盲元现场自动检测和插值补偿算法,实现了盲元的自动检测和校正.实验结果表明:该方法具有对盲元查找速度快、定位准确率高、补偿效果好及易于软硬件实现等特点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘上乾	西安电子科技大学技术物理学院	128	1852	22.0	36.0
2	殷世民	西安电子科技大学技术物理学院	16	437	10.0	16.0
3	周慧鑫	西安电子科技大学技术物理学院	53	892	16.0	28.0
4	赖睿	西安电子科技大学技术物理学院	36	561	14.0	23.0