2MeV质子辐照对Zr-4合金显微组织的影响

• 作者: 万发荣 尤利平 朱莎 王鲁闵 祖小涛
• 来源期刊: 核动力工程
• 关键词: Zr-4合金 质子辐照效应 位错环 透射电镜
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 燃料与材料
• 页码范围: 50-53
• 页数: 4页
• 分类号: TG146.4+14:TG115.21+3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0926.2004.01.012

摘要

通过密西根大学离子束表面改性和分析实验室的大束流加速器研究了Zr-4合金的质子辐照效应.结果表明:当原子离位损伤率约1×10-5 dpa/s,在350°C 质子辐照损伤分别达到2dpa、5dpa和7dpa时,辐照后位错环的密度分别为7×1021/m3、8×1021/m3、15×1021/m3,尺寸分别为7nm、11nm和11nm,表明位错环的密度和尺寸随质子辐照注量有增加的趋势.辐照前后的明场像、高分辨相和电子衍射花样均表明,在350°C 2MeV的质子辐照没有使锆4合金中的hcp-Zr(Cr,Fe)2和fcc-ZrFe2沉淀相发生非晶化转变.