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摘要:
采用双脉冲控电位技术在单晶硅上沉积了一系列Cu/Co纳米多层膜,调制波长从200nm到5nm不等,用扫描电镜及X射线衍射对多层膜的调制结构进行了表征,采用四探针法测试多层膜的巨磁电阻(GMR)效应,研究了GMR与调制波长(λ)、铜的子层厚度(δCu)的关系:λ较大时,没有观察到明显的GMR效应;A<30nm时,GMR效应随λ减小而增大;而λ<8nm时,GMR值随铜层厚度的变化周期性振荡。
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文献信息
篇名 单晶硅上电沉积Cu/Co纳米多层膜及其巨磁电阻效应
来源期刊 磁流体发电情报 学科 工学
关键词 单晶硅 电沉积 Cu/Co纳米多层膜 巨磁电阻 电阻效应 四探针法 纳米材料
年,卷(期) 2004,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 414-417
页数 4页 分类号 TB383
字数 语种
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张卫国 天津大学化工学院杉山表面技术研究室 137 1608 22.0 33.0
2 姚素薇 天津大学化工学院杉山表面技术研究室 159 2047 26.0 36.0
3 赵瑾 天津大学化工学院杉山表面技术研究室 25 298 9.0 17.0
4 董大为 天津大学化工学院杉山表面技术研究室 5 67 4.0 5.0
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单晶硅
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Cu/Co纳米多层膜
巨磁电阻
电阻效应
四探针法
纳米材料
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北京市海淀区中关村北二条二号中科院电研所
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