X射线小角散射法测量纳米粉末的粒度分布

• 作者: 曾美琴 王辉
• 来源期刊: 粉末冶金技术
• 学科: 工学
• 关键词: X射线小角散射 纳米粉末 粒度分布
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 7-11
• 页数: 5页
• 分类号: TF12
• 字数: 2532字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-3784.2004.01.002

摘要

在常规高分辨X射线衍射仪上应用小角散射法测量了ZnO、 ZrO2、 Fe和Al2O3纳米粉末的粒度分布.测量结果与专用X射线小角散射仪器的测量结果一致,并经TEM分析验证.证明在常规高分辨X射线衍射仪上应用小角散射法测量纳米粉末的粒度是可行的.与采用四狭缝系统或Kratky狭缝系统的专用小角散射仪相比,该方法的特点是操作简单,成本较低,易于推广.目前此法可测量1～300nm范围的粉末粒度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曾美琴	华南理工大学机械工程学院	50	467	11.0	20.0
2	王辉	华南理工大学机械工程学院	36	247	7.0	15.0