基于Multi-Capture结构的扫描链优化算法

• 作者: 凌明 杨军 桑伟伟
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: Multi-capture结构 多扫描链 最小相关度
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 页码范围: 98-101
• 页数: 4页
• 分类号: TN919
• 字数: 2363字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2004.01.026

摘要

提出了一种基于多扫描链Multi-capture结构的扫描链优化算法,通过构造具有最小相关度的多扫描链结构,并利用Multi-capture内部响应复用为激励以侦测故障的原理,达到极大压缩测试向量长度的目的.实验结果表明,该优化算法平均优化率可以达到30%左右.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨军	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	210	2336	24.0	38.0
2	凌明	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	76	344	10.0	14.0
3	桑伟伟	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	3	8	2.0	2.0