一种实用的成像测井数据自动校深方法

• 作者: 乔德新 伍东
• 来源期刊: 测井技术
• 关键词: 成像测井 自动深度匹配 采样率 自动校深
• 年，卷（期）: 2004,（6）
• 所属期刊栏目: 处理解释
• 页码范围: 535-536
• 页数: 2页
• 分类号: P631.81
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1338.2004.06.017

摘要

在eXpress 平台中,ADM程序只能对低采样率测井项目进行纵向深度匹配,而无法对高采样率测井项目按照低采样率测井曲线进行纵向深度匹配.分析发现,通过降低数据文件的采样率,可以应用ADM程序对高采样率测井项目(如CBIL和STAR测井项目)进行纵向深度匹配,达到自动校深的目的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	伍东		2	10	2.0	2.0
2	乔德新		6	32	3.0	5.0