基于过程控制的无损探伤

• 作者: 吴根兴 赵宏 郭黎群
• 来源期刊: 中国计量学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 过程控制 计数调整型 无损探伤
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 页码范围: 220-222
• 页数: 3页
• 分类号: TL929
• 字数: 2247字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1540.2004.03.012

摘要

在对产品进行检验时,要变事后检验为事前预防.由于一成不变的百分比检验无论在成本、工期或是在OC曲线上都是不科学不合理的,所以提出了在无损检验上进行统计过程控制(SPC),并通过计数调整型来改变检验宽严度,在保证不降低检验质量的前提下,加快工期,降低成本,提高竞争力.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴根兴	中国计量学院机电工程学院	10	15	2.0	3.0
2	赵宏	中国计量学院机电工程学院	13	56	5.0	7.0
3	郭黎群	上海交通大学电子信息学院	1	1	1.0	1.0