子孔径拼接干涉检测实验研究

• 作者: 张蓉竹 石琪凯 蔡邦维 许乔
• 来源期刊: 光学技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 大口径光学元件 子孔径拼接 计算模型
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 所属期刊栏目: 光学测量
• 页码范围: 173-175
• 页数: 3页
• 分类号: O432.2|O436.1
• 字数: 2057字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-1582.2004.02.004

摘要

为了满足国内ICF系统大口径光学元件的检测需要,提出了子孔径拼接干涉检测的方法.该方法是利用小口径干涉仪对大口径光学元件进行高精度波前检测.建立了拼接检测计算的模型.利用最小二乘法计算得到拼接参数,从而恢复大口径光学元件的全孔径波前相位分布.在理论分析的基础上设计了一套检测装置,对该装置的稳定性进行了实验研究.进行了两口径拼接检测的实验.拼接结果与全孔径检测结果进行了比较.结果表明,该检测方案能够满足大口径光学元件的检测要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许乔		82	1074	17.0	27.0
2	蔡邦维	四川大学电子信息学院光电系	66	756	15.0	24.0
3	张蓉竹	四川大学电子信息学院光电系	107	573	10.0	20.0
4	石琪凯		1	54	1.0	1.0