工业X射线透视成像中的散射及其校正

• 作者: 路宏年 陈树越
• 来源期刊: 兵工学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光学 射线检测 无损检测 散射 射线数字成像
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 页码范围: 163-166
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.28+1
• 字数: 2144字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-1093.2004.02.009

摘要

本文以实验为基础研究了工业X射线散射对无损检测成像质量的影响、散射规律及其校正方法.通过研究散射系统的设计,用实验得出了射线散射随试件厚度的变化关系,修正了以往人们常用的散射模型,提出了指数幂散射模型,利用该模型对X射线散射用维纳滤波法进行了校正.实例表明,本法可以有效地抑制散射对成像质量的影响,使透视图像的空间分辨率与校正前相比提高了56%,取得了较好的校正效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	路宏年		70	784	17.0	24.0
2	陈树越		25	447	12.0	21.0