HgCdTe中少数载流子寿命的微波反射法测量

• 作者: 刘志存
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 微波检验 载流子 寿命
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 科研成果与学术交流
• 页码范围: 28-29,53
• 页数: 3页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 1499字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6656.2004.01.009

摘要

用微波反射法测量HgCdTe中少数载流子寿命.分析了其测量原理,并与接触式的光电导衰减法进行了对比.结果表明,被测样品HgCdTe中的电学性能并不均匀,用微波反射法更能真实地反映样品光照区域少数载流子的寿命.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘志存	陕西师范大学物理学与信息技术学院	39	291	9.0	16.0