半导体激光器加速寿命测试系统研制

• 作者: 亢俊健 张世英 王大成 苏美开
• 来源期刊: 激光技术
• 学科: 工学
• 关键词: 激光与光电子学 半导体激光器 加速寿命测试 Arrhenius模型
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 测量和防护
• 页码范围: 228-230,254
• 页数: 4页
• 分类号: TN248.4
• 字数: 3182字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3806.2004.03.019

摘要

介绍了半导体激光器(LD)加速寿命测试的理论依据,给出了寿命测试的数学模型,并据此研制了新型LD寿命测试系统.该系统在密封抽真空充氮环境下,通过采集恒功工作LD的工作电流随时间变化的信息及所处环境的温度,绘制出LD的老化曲线,即恒功条件下的"I-t曲线",然后推断LD的使用寿命.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	苏美开	北京理工大学光电工程系	17	133	6.0	11.0
2	亢俊健	石家庄经济学院光电技术研究所	11	60	4.0	7.0
3	张世英	西安武警工程学院通信系	1	4	1.0	1.0