PCI9030在基于PCI总线X光谱数据采集卡中的应用

• 作者: 李开龙 米德伶 胡现辉 车震平 魏彪
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 工业X-CT 能谱硬化 X光谱数据采集 PCI总线 PCI9030
• 年，卷（期）: 2004,（z1）
• 所属期刊栏目: 信息科学
• 页码范围: 180-184
• 页数: 5页
• 分类号: TP391
• 字数: 3213字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1004-924X.2004.z1.041

摘要

工业X-CT(X-ray Computed Tomography)即工业X射线层析成像技术,既是一种精密的测试设备,也是一种先进的无损检测技术,在航空、航天、军工、机械、电子、石油及地质等部门中有着广泛的用途.在工业X-CT系统中,因为X射线的能量是一个连续谱线,故X射线与被测物作用后将产生"能谱硬化"(Beam-hrdening)现象,这对CT图像质量将造成不良的影响,必须进行硬化校正.X光谱仪即是为此而研制的.论文在分析比较X光谱仪数据采集卡及系统的基础上,研制了一种基于PCI总线的X光谱数据采集卡,并就PCI数据采集卡设计中采用目标接口芯片PCI9030时,如何对本地总线及挂接的设备进行硬件设计以及如何设置几个重要的寄存器等进行了阐述,获得了一些进展.