CCD成像系统性能检测装置

• 作者: 吴厚平 李平 熊利民 王煜 郑春弟
• 来源期刊: 计量技术
• 学科: 工学
• 关键词: CCD成像系统 辅助功能靶板 面响应度均匀性 响应度线性
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 测量与设备
• 页码范围: 12-17
• 页数: 6页
• 分类号: TB8
• 字数: 4419字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0771.2004.03.004

摘要

本文介绍了依照国际最新的CCD成像系统评价方法建立的CCD成像系统性能检测装置及其性能.简要介绍了校准图象的摄取和评价方法,以及评价的指标.分析了该装置的测量结果不确定度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王煜	中国计量科学研究院光学处	37	211	6.0	13.0
2	李平	中国计量科学研究院光学处	29	248	6.0	15.0
3	吴厚平	中国计量科学研究院光学处	13	60	4.0	7.0
4	郑春弟	中国计量科学研究院光学处	22	163	6.0	12.0
5	熊利民	中国计量科学研究院光学处	25	157	7.0	11.0