结构光测量中获取高精度相位的新方法

• 作者: 潘伟 赵毅 阮雪榆
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 三维测量 结构光测量 相移 投影光栅 相位传递函数
• 年，卷（期）: 2004,（5）
• 所属期刊栏目: 光学测量
• 页码范围: 687-691
• 页数: 5页
• 分类号: TP212
• 字数: 3317字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-2239.2004.05.024

摘要

随着制造技术的快速发展,三维光学测量技术也得到迅速的发展,利用双目CCD(电耦合插件)摄像机记录的光栅投影测量技术是一种新型的光学测量方法.在该方法的测量过程中,通过测量相位值取得测量空间.为了获得连续的高精度测量相位值,提出一种结合了格雷(Gray)编码并能够优化相位精度的相移方法,该方法通过投影相位传递函数来优化测量相位值.为了消除光栅投影图像中非正弦、周期变化和其他干扰因素的影响,给出投影光栅一种新的光强函数,利用这个光强函数能够进一步提高投影光栅测量相位精度.最终,通过插值测量相位精度能达到亚像素级.