X射线荧光光谱法测定生铁中的次量元素

• 作者: 石兵
• 来源期刊: 四川冶金
• 学科: 工学
• 关键词: X射线荧光光谱法 玻璃熔片法 生铁
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 所属期刊栏目: 冶金分析、检验
• 页码范围: 38-40
• 页数: 3页
• 分类号: TF0
• 字数: 1734字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5108.2004.04.013

摘要

采用玻璃熔片法制样,用ZSX100e型X射线荧光光谱仪测定生铁中的次量元素Si、Mn、P、V、Ti、Cu、Cr.其分析结果的精密度和准确度不低于化学法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	石兵		2	2	1.0	1.0