原子荧光光谱法测定地质样品中的痕量锗

• 作者: 张培新 肖灵 胡月华
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: 锗 氢化物发生-原子荧光光谱法 地质样品
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 实验技术与实验装置
• 页码范围: 231-234
• 页数: 4页
• 分类号: O657.31|O614.431
• 字数: 2142字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-5357.2004.03.017

摘要

分析了溶矿过程中HNO3、H2SO4、HClO4、H3PO4等对Ge的影响,采用AgNO3滤气装置消除气相干扰,测定了地质样品中的痕量锗,方法检出限为0.06 μg/g,用土壤国家一级标准物质GBW 07401～GBW 07408验证方法,结果与标准值相符,其相对标准偏差(RSD,n=12)为3.66%～6.11%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张培新		18	152	7.0	12.0
2	肖灵		11	205	7.0	11.0
3	胡月华		1	21	1.0	1.0