基于信息熵的成功率截尾序贯统计试验方案推导

• 作者: 朱亮 林震 胡斌
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 信息熵 成功率 序贯截尾
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境适应性理论研究
• 页码范围: 28-30
• 页数: 3页
• 分类号: O213.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2004.01.007

摘要

成功率序贯截尾统计试验方案是可靠性验证试验中的一种常用方案,其理论推导过程基于"概率比"或"似然比".将信息熵用于可靠性领域是近年发展起来的,并取得了一系列的成果.从信息熵的角度出发,推导出与序贯截尾统计试验方案一致的结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林震	中国工程物理研究院电子工程研究所	10	125	5.0	10.0
2	胡斌	中国工程物理研究院电子工程研究所	10	138	4.0	10.0
3	朱亮	中国工程物理研究院电子工程研究所	3	30	2.0	3.0