Aptix System ExplorerTM使用方法初探

• 作者: 张斌 邵东瑞 金迪
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: 片上系统(SOC) 可编程互连器件(FPIC) 可编程印制版(FPCB) MVP Incircuit
• 年，卷（期）: 2004,（5）
• 所属期刊栏目: 微机应用
• 页码范围: 47-48
• 页数: 2页
• 分类号: TP319
• 字数: 873字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2004.05.017

摘要

本文描述了Aptix System ExplorerTM硬件仿真系统两种工作方式(MVP & Incircuit)的基本原理及流程,分析了该系统的特点,并给出了如何利用其中的In Circuit模式实现对Intel 8274芯片的测试,并与传统的测试方案进行了对比验证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	金迪		7	2	1.0	1.0
2	邵东瑞		2	0	0.0	0.0
3	张斌		2	0	0.0	0.0