基于微波暗室的计算机电磁泄漏测试

• 作者: 卢凌 吴楠 宋文武 李晟 杨顺辽 梁军 聂明新
• 来源期刊: 武汉理工大学学报（交通科学与工程版）
• 学科: 工学
• 关键词: 微波暗室 电磁泄漏 时域 频域
• 年，卷（期）: 2004,（5）
• 页码范围: 725-728
• 页数: 4页
• 分类号: TP333.3
• 字数: 3670字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3963/j.issn.2095-3844.2004.05.027

摘要

提供了在EMC微波暗室中的PC机电磁泄漏的时域、频域测试方法并进行了实践,取得了整机、外设及网络状态的测试数据,为研究计算机电磁泄漏,特别是有用信息的泄漏,以实现反窃取具有积极意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	聂明新	武汉理工大学信息工程学院	33	214	9.0	12.0
2	卢凌	武汉理工大学信息工程学院	30	346	11.0	17.0
3	梁军	武汉理工大学信息工程学院	10	90	5.0	9.0
4	李晟	武汉理工大学信息工程学院	8	111	6.0	8.0
5	杨顺辽	武汉理工大学信息工程学院	6	80	5.0	6.0