最优激励下LPDA相控阵的特性分析

• 作者: 吴世龙 尹成友 张克芳
• 来源期刊: 电子对抗技术
• 学科: 工学
• 关键词: 对数周期天线 相控阵 最优激励 宽角扫描
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 所属期刊栏目: EW设计技术
• 页码范围: 31-34
• 页数: 4页
• 分类号: TN821.6|TN821.8
• 字数: 2106字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-2230.2004.02.008

摘要

通过对天线阵最优激励的理论推导,得到了短波对数周期相控阵天线的激励与波束指向之间的关系,利用Matlab语言编程计算了等幅激励下不同波束指向所需的激励相位,得到了8元阵列的方位和俯仰扫描方向图.所得结果表明,可以通过对激励的控制,实现阵列的宽角扫描能力,这对短波LPDA相控阵的设计具有一定的指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴世龙	解放军电子工程学院微波教研室	24	105	6.0	9.0
2	尹成友	解放军电子工程学院微波教研室	45	191	7.0	10.0
3	张克芳		4	30	2.0	4.0