仪表着陆系统辐射场型的场地影响分析

• 作者: 刘勇 吴德伟 王永胜
• 来源期刊: 无线电通信技术
• 学科: 工学
• 关键词: 仪表着陆系统 场地影响 场型分析
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 所属期刊栏目: 天线技术
• 页码范围: 31-33
• 页数: 3页
• 分类号: TN92
• 字数: 3227字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-3114.2004.02.012

摘要

基于电磁场的基本原理及其坐标变换,介绍了仪表着陆系统(Instrument Landing system,简称ILS)场地影响的一种分析方法.结合马克-Ⅱ型ILS,计算了场地影响时ILS天线阵的辐射场型,并与理想条件下,天线阵的辐射场型进行了比较与分析.该分析方法对于ILS运行检证及飞行检验具有重要意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴德伟	空军工程大学电讯工程学院	187	776	13.0	21.0
2	刘勇	空军工程大学电讯工程学院	23	201	8.0	13.0
3	王永胜	空军工程大学电讯工程学院	2	85	2.0	2.0