三代微光器件的测试和评估技术研究

• 作者: 常本康 杜晓晴 杜玉杰 邱亚峰 钱芸生
• 来源期刊: 真空科学与技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 负电子亲和势 三代微光像增强器 光谱响应 表面逸出几率 电子扩散长度
• 年，卷（期）: 2004,（5）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 389-392
• 页数: 4页
• 分类号: TN223
• 字数: 2709字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-7126.2004.05.017

摘要

在已有的负电子亲和势(NEA)光电阴极特性评估技术的基础上,研制了三代微光器件的测试和评估系统工程样机,用于对三代微光器件的光谱响应等参数的测试和激活过程中的工艺信息监控,通过分析计算可获得三代微光器件光电阴极的表面逸出几率、载流子扩散长度和后界面复合速率等参数.利用该系统对三代微光像增强器进行了测试和评估,文中给出了测试结果并加以分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	钱芸生	南京理工大学电子工程与光电技术学院	86	807	13.0	24.0
2	常本康	南京理工大学电子工程与光电技术学院	234	2020	19.0	30.0
3	杜玉杰	南京理工大学电子工程与光电技术学院	10	74	6.0	8.0
4	杜晓晴	南京理工大学电子工程与光电技术学院	17	214	11.0	14.0
5	邱亚峰	南京理工大学电子工程与光电技术学院	55	199	7.0	9.0