IC静电放电的测试

• 作者: 陆坚
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: ESD HBM 静电放电故障临界电压
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 电路设计与测试
• 页码范围: 37-43,27
• 页数: 8页
• 分类号: TN407
• 字数: 4863字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2004.01.011

摘要

本文主要论述了静电放电(ESD)人体放电模式的测试过程,包括测试标准、IC管脚的测试组合、IC失效判别以及静电放电敏感度等级分类等.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陆坚		16	86	5.0	8.0