TI新型超低功耗16位RISC系列MCU性能更高可靠性更强

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篇名	TI新型超低功耗16位RISC系列MCU性能更高可靠性更强
来源期刊	电子工程师	学科
关键词
年，卷（期）	2004,（12）	所属期刊栏目	行业动态
研究方向		页码范围	14
页数	1页	分类号
字数		语种	中文
DOI