利用加速器质谱学中的入射离子X射线方法测定79Se的半衰期

• 作者: 何明 刁立军 姜山 武绍勇 蒋崧生
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: 79Se 半衰期 PX-AMS
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 低能加速器技术、射线技术及应用
• 页码范围: 22-26
• 页数: 5页
• 分类号: TL817+.1|TL817+.7|TL99
• 字数: 4426字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2004.01.005

摘要

利用加速器质谱学中的入射离子X射线方法(PX-AMS)对79Se的半衰期进行了测定.用这一直接测量79Se原子数的方法得到新的79Se半衰期为(2.80±0.36)×105a.利用同样的方法也测定了75Se的半衰期,75Se半衰期的测定结果显示利用PX-AMS方法对79Se半衰期的测定结果是可靠的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姜山		60	194	8.0	11.0
2	何明		64	202	8.0	11.0
3	武绍勇		26	74	4.0	8.0
4	蒋崧生		13	72	5.0	8.0
5	刁立军		9	43	3.0	6.0