X射线荧光光谱法测定地质样品中的氯和硫

• 作者: 周长祥 王卿 白雪冰 袁家义
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱法 氯 硫 真空度
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 实验技术与实验装置
• 页码范围: 225-227
• 页数: 3页
• 分类号: O657.34|O613.42|O613.51
• 字数: 1835字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-5357.2004.03.015

摘要

使用粉末压片-X射线荧光光谱法测定地质样品中的Cl和S,探讨了样品放置时间、环境以及建立真空的时间对测量结果的影响.Cl的精密度(RSD,n=6)小于10%,S的精密度(RSD,n=6)小于5%.Cl和S的方法检出限分别为14和11 μg/g,采用国家标准物质分析验证方法,其结果与标准值相符.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	袁家义		1	29	1.0	1.0
2	白雪冰		1	29	1.0	1.0
3	王卿		1	29	1.0	1.0
4	周长祥		2	32	2.0	2.0