基于FPGA中FIFO误码率软硬件测试方法

• 作者: 刘振安 徐昊 王科 赵棣新 过雅南 阴泽杰
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 误码率 先进先出寄存器 伪随机码 线性反馈移位寄存器
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 5-6
• 页数: 2页
• 分类号: TP3
• 字数: 2165字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-7300.2004.02.003

摘要

文中介绍用FPGA中FIFO的误码率软件和硬件测试方法,简介数据比较程序;说明硬件测试中伪随机码序列特点和生成原理,并对比较时如何使数据对应做出讨论.最后列出测试结果,比较这两种方法的优缺点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	阴泽杰		58	211	8.0	10.0
2	刘振安	中国科学院高能物理研究所	54	361	11.0	15.0
3	王科		24	152	7.0	11.0
4	过雅南	中国科学院高能物理研究所	23	107	7.0	9.0
5	赵棣新	中国科学院高能物理研究所	23	100	7.0	8.0
6	徐昊	中国科学院高能物理研究所	10	28	4.0	4.0