Pr3+:Y2SiO5中的反斯托克斯荧光谱及其对基态Stark分裂能级的确定

• 作者: 丁良恩 孙真荣 张衍亮 李玉琼 王祖赓
• 来源期刊: 光谱学与光谱分析
• 学科: 物理学
• 关键词: Pr3+:Y2SiO5 反斯托克斯荧光 能量转移 Stark分裂
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 页码范围: 385-387
• 页数: 3页
• 分类号: O433.54
• 字数: 1059字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-0593.2004.04.001

摘要

掺杂在晶体Y2SiO5 (YSO)中的Pr3+, 运用脉冲激光激发3H4→1D2跃迁,粒子通过非辐射能量转移从能级 1D2转移到能级 3P0, 测得了对应于 3P0→3H4跃迁的反斯托克斯荧光光谱, 由此可确定 3H4的Stark分裂能级以及 3P0能级的能量高度. 与运用激光激发 3H4→1D2跃迁, 通过观察 1D2→3H4斯托克斯荧光光谱确定3H4的Stark分裂能级方法相比, 该过程避免了不同晶点位置中(Crystallographic site)Pr3+的 1D2能级间的能量转移影响, 从而具有较高的确定性. 同时, 我们观察了反斯托克斯荧光的时间特性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李玉琼	光谱学与波谱学教育部重点实验室华东师范大学物理系	3	9	1.0	3.0
2	孙真荣	光谱学与波谱学教育部重点实验室华东师范大学物理系	12	36	5.0	5.0
3	王祖赓	光谱学与波谱学教育部重点实验室华东师范大学物理系	11	28	4.0	5.0
4	张衍亮	光谱学与波谱学教育部重点实验室华东师范大学物理系	5	0	0.0	0.0
5	丁良恩	光谱学与波谱学教育部重点实验室华东师范大学物理系	5	26	1.0	5.0