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摘要:
ZnO是一种直接带半导体材料,在光电领域中和GaN一样受到关注.ZnO不仅有与GaN相似的晶体结构,而且它的激子结合能高达60meV,是GaN的2.4倍.采用射频(RF)磁控溅射法在n-Si(001)衬底上生长ZnO薄膜,XRD谱测量显示出氧压对ZnO薄膜的晶体结构有显著影响.用波长为325nm的激光激发,观察到在445 nm处有一强的光致发光峰,它来自于氧空位浅施主能级上的电子跃迁到价带,分析了发光峰与氧压的关系以及退火对它的影响.
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文献信息
篇名 氧对纳米ZnO薄膜晶体结构和光致发光的影响
来源期刊 曲阜师范大学学报(自然科学版) 学科 物理学
关键词 ZnO薄膜 射频磁控溅射 光致发光 氧压
年,卷(期) 2004,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 48-50
页数 3页 分类号 O47
字数 2121字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-5337.2004.02.012
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 潘志峰 上海理工大学光电学院 31 148 7.0 10.0
5 袁一方 济宁医学院物理教研室 3 9 2.0 3.0
6 王志坚 上海大学自动化学院 13 51 5.0 6.0
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研究主题发展历程
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ZnO薄膜
射频磁控溅射
光致发光
氧压
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