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摘要:
用X射线衍射仪做定量分析衍射实验,会出现因盖革计数器存在分辨时间而漏计的现象.为了简便地测定分辨时间,本文利用单层膜二次照射技术,导出了用来校正积分强度的近似公式,并与逐点校正法作了对比分析,二者符合很好.
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 X光衍射实验的改进与校正
来源期刊 物理实验 学科 物理学
关键词 X射线 衍射 分辨时间 积分强度
年,卷(期) 2004,(6) 所属期刊栏目 实验教学
研究方向 页码范围 8-9
页数 2页 分类号 O434.1
字数 1205字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-4642.2004.06.002
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 罗来龙 武汉理工大学理学院 13 49 4.0 6.0
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研究主题发展历程
节点文献
X射线
衍射
分辨时间
积分强度
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
物理实验
月刊
1005-4642
22-1144/O4
大16开
长春市人民大街5268号东北师范大学内
12-44
1980
chi
出版文献量(篇)
3869
总下载数(次)
22
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