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汽车电子用裂隙梁型压力连接器插接过程的可靠性分析
汽车电子用裂隙梁型压力连接器插接过程的可靠性分析
作者:
王安麟
马立新
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
压力连接
接触
有限元
裂隙梁
摘要:
本文以一种裂隙梁型接触端子为对象,结合显式时间积分法和罚接触算法,动态地仿真接触端子与印刷电路板(PCB)间直通型微孔的金属衬套(电镀通孔(PTH))的插接过程,分析接触端子的结构对于连接可靠性的影响.研究发现汽车电子连接器用裂隙梁型接触端子插接过程PTH可能发生塑性变形而破坏,此结论对汽车电子连接器用接触端子的微小型结构设计具有指导性意义.
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文献信息
篇名
汽车电子用裂隙梁型压力连接器插接过程的可靠性分析
来源期刊
电子与封装
学科
工学
关键词
压力连接
接触
有限元
裂隙梁
年,卷(期)
2004,(5)
所属期刊栏目
热点关注:汽车电子可靠性与测试
研究方向
页码范围
44-49
页数
6页
分类号
TN70
字数
2904字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1681-1070.2004.05.012
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
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G指数
1
王安麟
30
541
13.0
22.0
2
马立新
8
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5.0
7.0
传播情况
被引次数趋势
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引文网络
引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
压力连接
接触
有限元
裂隙梁
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
开本:
大16开
出版地:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
邮发代号:
创刊时间:
2002
语种:
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
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