应用于纳米级颗粒粒度分析的新型声波粒度仪

• 作者: 潘志东 王燕民
• 来源期刊: 中国粉体技术
• 关键词: 颗粒粒度 声脉冲 声衰减 测试仪器
• 年，卷（期）: 2004,（z1）
• 所属期刊栏目: 专题报告
• 页码范围: 8-14
• 页数: 7页
• 分类号: O6
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-5548.2004.z1.002

摘要

声波粒度仪是近年来出现的一种可以准确测量超微细颗粒尺寸的仪器.本文介绍了该仪器的基本原理,并给出测定实例.该仪器是利用声波遇到粉体颗粒发生声衰减的现象,通过测定声衰减的程度来获得颗粒的粒度分布数据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘志东	华南理工大学材料科学与工程学院	35	360	9.0	18.0