基于241Am-Ag源的相含率测试用的快速分析系统和方法

• 作者: 潘勇 王化祥 郝魁红
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 多道分析 相含率 脉冲计数 峰位跟踪
• 年，卷（期）: 2004,（5）
• 页码范围: 477-480
• 页数: 4页
• 分类号: TL822.4
• 字数: 2544字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2004.05.010

摘要

介绍了一种基于241Am-Ag源的相含率测试用快速多道分析器,它利用脉冲分析原理能对双能射线准确地进行分析,并对双能透射射线进行快速计数.实验证明,它不仅能够自动跟踪峰位,而且分析速度快,稳定性好,结构简单.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王化祥	天津大学自动化学院	212	2676	24.0	36.0
2	郝魁红	天津大学自动化学院	17	131	6.0	10.0
4	潘勇	天津大学自动化学院	8	100	5.0	8.0