智能测控电路片上系统的设计与仿真

• 作者: 吴金勇 徐健健 徐苏珊 虞致国 马国强
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 智能测控 片上系统 微控制器 FPGA
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 页码范围: 75-78
• 页数: 4页
• 分类号: TN392
• 字数: 2443字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2004.01.020

摘要

智能测量控制电路在工业测控及各类消费产品中应用极广,介绍了其基于8 bit嵌入式微控制器的单芯片系统的设计及仿真.在单芯片内完成智能测控系统所需的数据调理、模数转换、用户按键输入、数码显示、控制量输出等功能.设计了基于FPGA的硬件仿真平台,验证了系统功能的正确性.本设计具有较强的通用性,可用于多种测控场合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐健健	南京大学物理学系	70	662	16.0	22.0
2	虞致国	南京大学物理学系	11	163	5.0	11.0
3	吴金勇	南京大学物理学系	17	101	6.0	9.0
4	马国强	南京大学物理学系	23	246	11.0	15.0
5	徐苏珊	南京大学物理学系	6	52	4.0	6.0