透明全息防伪薄膜光学性质研究

• 作者: 倪星元 吴广明 周斌 张志华 徐平 沈军 秦仁喜 魏建东
• 来源期刊: 材料导报
• 关键词: 透明全息 防伪 薄膜
• 年，卷（期）: 2004,（7）
• 所属期刊栏目: 材料综述
• 页码范围: 5-7,11
• 页数: 4页
• 字数: 2845字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1005-023X.2004.07.002

摘要

一种透明全息防伪薄膜,在透明的同时反射全息图像.用全息摄影、激光雕刻和电铸手段,以光栅条纹的形式记录和制备金属模版.热压具有蚋米结构的TiO2信息层,再现全息图像.用溶胶-凝胶方法制备信息层,选择合适的前驱体、催化剂、热处理条件使折射率≥1.8.据光学匹配原理设计膜系,信息层/基底层厚度分别为≥0.3 μm和≥10μm.正弦波状光栅,深度0.1 μm.在视角≥60再现的全息图像最清晰.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周斌	同济大学波耳固体物理研究所	140	1582	22.0	31.0
2	沈军	同济大学波耳固体物理研究所	199	2285	26.0	36.0
3	吴广明	同济大学波耳固体物理研究所	118	1607	22.0	32.0
4	倪星元	同济大学波耳固体物理研究所	48	742	16.0	25.0
5	张志华	同济大学波耳固体物理研究所	52	554	14.0	22.0
6	秦仁喜	同济大学波耳固体物理研究所	8	108	4.0	8.0
7	魏建东	同济大学波耳固体物理研究所	10	179	9.0	10.0
8	徐平	同济大学波耳固体物理研究所	6	14	2.0	3.0