导引头光学系统性能测试仪的研制

• 作者: 彭其圣
• 来源期刊: 红外技术
• 学科: 工学
• 关键词: 红外导引头 电荷耦合器件 数据采集 自动聚焦
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 系统与设计
• 页码范围: 27-30
• 页数: 4页
• 分类号: TN216
• 字数: 2044字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.01.008

摘要

研制了一种基于1.064 μm导引头的光斑测试仪.该测试仪以1.064 μm导引头为被测对象,以红外面阵CCD探测器为接收器,采用1.064 μm的激光光源模拟无穷远点光源,分析光源通过被检系统后,其焦平面上成像光斑的质量.通过RS-232串口通讯及图像采集卡的实时数据采集自动寻找最佳像面位置及最大视场角.测试结果表明:系统重复性好、可靠性高、自动化程度高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	彭其圣	中南民族大学电信学院	19	113	7.0	9.0