X荧光融片法测定硅铝铁和硅铝钡铁中硅铝

• 作者: 侯艳冰 王国增 赵伟
• 来源期刊: 冶金分析
• 学科: 化学
• 关键词: 熔融 硅铝铁 硅铝钡铁 硅 铝
• 年，卷（期）: 2004,（z1）
• 所属期刊栏目: X-射线荧光光谱分析
• 页码范围: 228-229
• 页数: 2页
• 分类号: O657.34
• 字数: 1244字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7571.2004.z1.066

摘要

采用铂坩埚熔融法制样,对硅铝铁、硅铝钡铁中主量元素硅和铝进行X荧光光谱法测定.采用四硼酸锂在铂金坩埚内熔融后挂壁形成保护膜,以过氧化钠和过氧化钡混合物作熔剂,碘化铵作脱膜剂.此法不仅克服了粒度效应,而且避免了铂金坩埚腐蚀的危险,由于它的高度均质化,提高了测量的准确度,测量结果令人满意.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	侯艳冰	邯钢技术中心中心化验室	2	5	1.0	2.0
2	赵伟	邯钢技术中心中心化验室	2	5	1.0	2.0
3	王国增	邯钢技术中心中心化验室	2	5	1.0	2.0