运用概率分布函数确定特高品位

• 作者: 刘默 支学军
• 来源期刊: 吉林地质
• 学科: 数学
• 关键词: 正态曲线 数率统计 正态分布积分函数 特高品位
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 所属期刊栏目: 技术方法
• 页码范围: 118-120
• 页数: 3页
• 分类号: O211.9
• 字数: 1381字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2427.2004.04.022

摘要

地质品位是评价矿石质量的重要依据.样品的品位与频率的曲线为不对称的正态曲线时,通过对样品品位的数率统计,用正态分布积分函数计算某测定品位以上的样品在样本总体内允许出现的数量,确定其是否为特高品位.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘默	吉林大学地球科学学院	2	14	2.0	2.0
2	支学军	吉林大学地球科学学院	2	9	1.0	2.0