OTDR测试盲区的研究与应用

• 作者: 余晓芬 李立功
• 来源期刊: 合肥工业大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 光时域反射计 事件盲区 窄脉冲
• 年，卷（期）: 2004,（10）
• 页码范围: 1330-1333
• 页数: 4页
• 分类号: TH741.4
• 字数: 3475字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-5060.2004.10.055

摘要

文章介绍了光时域反射计(OTDR)测试盲区的指标定义和产生机理,提出了利用窄脉冲、宽带宽、程控滤波和衰减等技术减小测试盲区的解决办法.结果表明,运用这些方法和高速采样技术对现有产品改进后,实现了3 m的测试事件盲区,满足了光纤器件和光纤局域网的小盲区测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	余晓芬	合肥工业大学仪器仪表学院	97	756	14.0	22.0
2	李立功	合肥工业大学仪器仪表学院	3	24	3.0	3.0