片式ZnO压敏电阻器印叠工艺对通流容量的影响

• 作者: 康雪雅 张明 曾祥明 林伟时 赵根妹
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 片式氧化锌压敏电阻器 内电极的烘干温度 内电极的烘干时间 通流容量
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 所属期刊栏目: 敏感元器件
• 页码范围: 16-17
• 页数: 2页
• 分类号: TM546
• 字数: 1350字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2004.02.006

摘要

通过印叠工序中,内电极烘干温度与烘干时间的试验,研究了它们对片式ZnO压敏电阻器通流容量的影响.结果表明:烘干温度与烘干时间分别为70℃与2～4 h时,产品的通流容量最大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张明		4	26	4.0	4.0
2	赵根妹		3	22	3.0	3.0
3	康雪雅	中科院新疆理化所	3	13	1.0	3.0
4	曾祥明		3	20	2.0	3.0
8	林伟时		1	12	1.0	1.0