Honeywell集散控制系统中CL程序可靠性的分析

• 作者: 封亚斌
• 来源期刊: 合成技术及应用
• 学科: 工学
• 关键词: 集散控制系统 局部控制网 可靠性 控制语言
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 所属期刊栏目: 设备改造
• 页码范围: 59-61
• 页数: 3页
• 分类号: TP273
• 字数: 3150字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-334X.2004.02.019

摘要

从程序的可靠性角度出发,对用户编写AM/CL程序时应注意的几个要素,如野值处理、控制状态设置、存取权限设置及其它因素等进行了分析,并给出一些实例.