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利用高性能工具进行"常规"测量
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高性能天线远场测量暗室设计及实现
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低伤害
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用常规芯片构成高性能频率波形合成器
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电子测试
主办单位：
北京自动测试技术研究所
出版周期：
半月刊
ISSN：
1000-8519
CN：
11-3927/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市100098－002信箱
邮发代号：
82-870
创刊时间：
1994
语种：
chi
出版文献量（篇）
19588
总下载数（次）
63
总被引数（次）
36145
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