原文服务方: 电子质量       
摘要:
本文分析了读出电路的工作原理,基于相关双采样(CDS)技术,提出了一种改进的电容跨导放大器(CTIA)结构的Si-CMOS读出电路,并详细介绍了电路结构及工作过程.
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文献信息
篇名 基于成像系统应用的低噪声Si-CMOS读出电路设计
来源期刊 电子质量 学科
关键词 读出电路 低噪声 电容跨导放大器 相关双采样
年,卷(期) 2004,(8) 所属期刊栏目 IC工程
研究方向 页码范围 69-70,77
页数 3页 分类号 TN402
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-0107.2004.08.029
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 朱樟明 西安电子科技大学微电子研究所 164 1318 18.0 26.0
2 孟庆超 西安电子科技大学微电子研究所 1 8 1.0 1.0
3 翟艳 西安电子科技大学微电子研究所 4 33 3.0 4.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
读出电路
低噪声
电容跨导放大器
相关双采样
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
月刊
1003-0107
44-1038/TN
大16开
1980-01-01
chi
出版文献量(篇)
7058
总下载数(次)
0
总被引数(次)
15176
论文1v1指导