电感耦合等离子体发射光谱法直接测定纳米Y2O3中的杂质含量

• 作者: 彭丽萍 李玲 王志强
• 来源期刊: 现代科学仪器
• 学科: 化学
• 关键词: 氧化钇 纳米 电感耦合等离子体发射光谱
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 仪器技术与应用
• 页码范围: 45-48
• 页数: 4页
• 分类号: O657.3
• 字数: 2446字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-8892.2004.03.013

摘要

提出了一种在光谱定性半定量的前提下,选择最佳工作参数,用电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-AES)直接测定纳米氧化钇中杂质含量的方法,为纳米稀土粉末材料的定量分析提供了科学依据,方法简便快速.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李玲	暨南大学物理系	78	424	11.0	15.0
2	彭丽萍		4	10	2.0	3.0
3	王志强		9	12	2.0	3.0