超低副瓣阵列天线不同扫描角度幅相误差影响的研究

• 作者: 崔金辉 杨莘元
• 来源期刊: 哈尔滨工程大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 矩量法 本征激励法 互耦 超低旁瓣阵列天线
• 年，卷（期）: 2004,（6）
• 页码范围: 786-788
• 页数: 3页
• 分类号: TN820
• 字数: 2141字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-7043.2004.06.022

摘要

天线阵各单元间相互耦合,使超低副瓣阵列天线的性能发生改变.传统的幅相误差分析,很少考虑互耦影响.这里在考虑互耦影响的条件下,讨论幅度误差和相位误差对超低副瓣阵列天线性能的影响.利用矩量法对天线阵列进行互耦分析,并计算了天线阵列各单元的本征激励方向图.以八单元Chebyshev等间距直线阵为例,采用本征激励分析方法进行了数值统计分析,在不同的扫描角度下,模拟得到了幅度误差、相位误差对超低副瓣阵列天线副瓣最高电平影响的关系曲线.结果表明,随着扫描角度的增加,幅相误差和互耦对天线阵的影响也逐渐增加.采用的方法是适合于阵列天线大规模数值模拟计算的有效方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨莘元	哈尔滨工程大学信息与通信工程学院	197	1357	17.0	27.0
2	崔金辉	哈尔滨工程大学信息与通信工程学院	13	58	5.0	6.0